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KTH快温变试验箱

如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称: KTH快温变试验箱
产品型号: KTH
产品展商: 祥微
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简单介绍

KTH快温变试验箱是产品在设计强度极限下,运用温度加速技巧(在上、下限极值温度内进行循环时,产品产生交替膨胀和收缩)改变外在环境应力,使产品中产生热应力和应变,KTH快温变试验箱透过加速应力来使潜存于产品的瑕疵浮现[潜在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工艺瑕疵]。


KTH快温变试验箱  的详细介绍

KTH快温变试验箱是产品在设计强度极限下,运用温度加速技巧(在上、下限极值温度内进行循环时,产品产生交替膨胀和收缩)改变外在环境应力,使产品中产生热应力和应变,透过加速应力来使潜存于产品的瑕疵浮现[潜在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工艺瑕疵],以避免该产品于使用过程中,受到环境应力的考验时而导致失效,造成不必要的损失,对于提高产品出货良率与降低返修次数有显着的效果,另外应力筛本身是一种制程阶段的过程,而不是一种可靠度试验,所以应力筛选是100%对产品进行的程序。

KTH快温变试验箱产品特点:


         

规范要求:

a.可设定多种应力筛选(快温变率) 5℃/min、10℃/min、15℃/min的试验条件


b.满足电子设备产品应力筛选、无铅制程、MIL-STD-2164、MIL-344A-4-16、MIL-2164A-19、NABMAT-9492、GJB-1032-90、GJB/Z34-5.1.6、IPC-9701...等试验要求


c.可执行等均温与平均温试验方式


d.采用铝片验证机台负载能力(非塑料负载)

创新&特色:

a.单一机台可执行可执行快速温变(应力筛选)、结露试验、高温高湿、温湿度循环等试验


b.可筛选待测品负载数量大

控制器创新:

a.内建双向USB2.0随身碟储存接口(可拷贝试验曲线与加载试验程序)


b.完整实时试验曲线分析显示,无时间限制


c.可与e化管理系统进行整合监控


KTH快温变试验箱试验条件:


产品&规范 厂商名称 高温 低温 温变率 循环数 循环
时间
备注
MIL-STD-2164、GJB-1032-90
电子产品应力筛选

工作极限温度 工作极限温度 5℃/min 10~12 3h20min
MIL-344A-4-16
电子设备环境应力筛选
设备或系统 71℃ -54℃ 5℃/min 10

MIL-2164A-19
电子设备环境应力筛选

工作极限温度 工作极限温度 10℃/min 10
驻留时间为内部达到指定温度10℃时
NABMAT-9492
美军海军制造筛选
设备或系统 55℃ -53℃ 15℃/min 10
驻留时间为内部达到指定温度5℃时
GJB/Z34-5.1.6
电子产品定量环境应力筛选
组件 85℃ -55℃ 15℃/min ≧25
达到温度稳定的时间
GJB/Z34-5.1.6
电子产品定量环境应力筛选
设备或系统 70℃ -55℃ 5℃/min ≧10
达到温度稳定的时间
笔记型计算机 主机板厂商 85℃ -40℃ 15℃/min



技术规格:


KTH快温变试验箱Models (系统型) -K408 -K800
内容积 (Inside capacity) / 公升(Liter) 408 L 800 L
内箱尺寸 (Inside dimensions(W.D.H)cm) 60*80*85 100*80*100
外箱尺寸 (Outside dimensions(W.D.H)cm) 141*221*220 181*234*235
温度冲击范围 (Shock range) -40℃~125℃
温度变化范围 (Ramp rang) 3℃~15℃/min
驻留时间 (Dell time) 30min
静态重量 (Kg)(Static load weight) 30kg 以下
预备时间 (Precooling time) RT~-70℃:80min
温度稳定度 (Temperature stability ℃) ±0.5℃
升降温斜率波动度(Fluctuation for ramp up/down) ±3.0℃(空载下)
分布均匀度 (Temperature uniformity ) ±2.0℃(空载下)
设备噪音值 (Noise) 70dB 以下


※KTH快温变试验箱以上规格仅供参考,请以本公司报价为主,蕞终解释权归公司所有

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