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TS高低温试验箱在笔记本电脑的可靠性测试作用

TS高低温试验箱在笔记本电脑的可靠性测试作用
笔记型计算机从早期的12吋荧幕进化到现在的LED背光荧幕,其运算效能及3D处理,不会输给一般桌上计算机,而重量越来越没有负担,相对的对于整个笔记型计算机的可靠度试验要求也越趋严苛,从早期的包装落下到现今的开机落下,传统的高温高湿到现在的结露试验,从一般环境的温湿度范围到将沙漠试验列为常用条件,这些都是生产笔记型计算机相关组件及设计所需要考量的部分,将目前所收集的相关环境试验的试验条件整理与大家分享,期望对这个产业能够尽上棉薄之力。
可靠度实验室是一家公司在质量检验上重要而且不可或缺的重要单位,不管是在研发或是出货检测阶段上都需要进行相关的可靠度试验,联想计算机的可靠度实验室,大量采用相关环境试验设备,进行产品质量检测以及无铅制程的相关试验 。
键盘敲打试验

GB
100万次
按键压力 0.3--- 0.8N
按键行程 0.3---1.5MM

试验二:按键压力:75g(±10g) 测试10个键,测试14 days,每分钟240次, 合计约:483万次,每100萬次檢查一次


日系厂商
200-500万次
台系厂商 800万次以上
台系厂商 1000万次

电源开关与连接器插拔拉扯测试:
这个测试模仿各个连接器在反常用法之下,连接器所能够承受的侧向力量。

一般笔记本计算机 测试项目:USB、1394、PS2、RJ45 、 Modem、VGA..等 施力5kg(50次) 、上下左右拉扯与插拔。
电源开关与连接器插拔测试
4000次电源插拔
荧幕上盖开合测试:


台系厂商
开合2万次
日系厂商 开合8.5万次
日系厂商 开合3万次

系统待命及恢复开关测试:


一般笔记本
间隔10sEC 1000次
日系厂商 系统待命及恢复开关测试2000次

常见笔记本计算机故障原因:
☆搬运中掉落
☆异物掉落在笔记本上
☆使用中从桌子上掉落
☆将笔记本塞在提包或拉杆箱
☆极高温或低温
☆正常使用(过度使用)
☆在旅游地错误使用
☆PCMCIA不正确插入
☆在键盘上放置异物
关机落下试验:


一般笔记本
76公分
GB包装落下 100公分
美军,日系比较本电脑 90公分高度上将电脑从各面,棱,角26次
日系 30公分关机落下,自由跌落各面,棱,角26次
TOSHIBA,BENQ 100公分

开机落下试验:


日系
10公分开机落下
台系 74公分开机落下

操作温度试验:
笔记型组件检查点(h):0、4、8、24、32、40、56、64、72、88、92、96

储存高低温试验-TS高低温试验箱
笔记本计算机主机板温度冲击:


斜率(快速温变试验箱
20℃/min
循环数 (TS高低温试验箱 50cycles(冲击时无操作)

美国军方对笔记型计算机采购的技术标准&试验条件如下符合MIL-STD-810 军事规范


抗冲击性试验
90公分高度上将电脑从各面,棱,角26次
抗震性试验 20HZ---1000hz 1000hz---200hz XYZ三轴震动60min
TS高低温试验箱 0-60℃ 72h
防水试验 全方位喷水10min 喷水量1mm/min
防尘试验 粉尘浓度6mg/m3 持续时间2s(每隔10min,连续10次)